Repositorio Institucional de Documentos

Resumen: With the growing popularity of nanomaterials in a wide variety of products and processes, the need to measure and characterize these materials has also grown. For metallic or metal-containing engineered nanoparticles (NPs), single particle ICP-MS (SP-ICP-MS) has been developed and is growing in popularity due to its ability to rapidly detect and characterize a large number of particles, determine particle size and size distributions, the particle number concentration in a sample, and the elemental mass concentration of both dissolved and particulate species. SP-ICP-MS has been applied to a wide variety of sample types1-5, demonstrating its versatility.
A key variable in SP-ICP-MS, which must be applied correctly for accurate measurement of particle concentration, is the dwell time of the ICP-MS. Although this topic has been discussed previously6,7, this work will focus on direct comparisons of results using both microsecond and millisecond dwell times. Since a detailed version of this work is available8, only a brief description will be given here.
Idioma: Inglés
Año: 2016
Publicado en: Application Note (2016), [5 pp.]
ISSN:
Originalmente disponible en: Texto completo de la revista

Tipo y forma: Artículo (Versión definitiva)
Área (Departamento): Área Química Analítica (Dpto. Química Analítica)

Debe reconocer adecuadamente la autoría, proporcionar un enlace a la licencia e indicar si se han realizado cambios. Puede hacerlo de cualquier manera razonable, pero no de una manera que sugiera que tiene el apoyo del licenciador o lo recibe por el uso que hace. No puede utilizar el material para una finalidad comercial. Si remezcla, transforma o crea a partir del material, no puede difundir el material modificado.

Exportado de SIDERAL (2019-05-15-12:21:46)


Visitas y descargas

Este artículo se encuentra en las siguientes colecciones:
Artículos